开环(或半闭环)系统精度校正装置
公开
摘要

一种开环(或半闭环)系统精度校正装置。可在不改变原系统控制逻辑电路的情况下,获得与测量元件分辨率同量级的精度。若与滚动光栅量测元件配合使用,误差将不因行程增加而积累。因此在大型机床上应用效果特别显著。本装置具有自动换向控制逻辑电路,可模拟原系统动态特性的模拟环节。数字脉冲比较环节,由进给指令自动产生校正脉冲的补扣环节以及专供开环系统高速运行时实现误差动态校正而不丢步的校正脉冲延时计数器。

基本信息
专利标题 :
开环(或半闭环)系统精度校正装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN85100125A
申请号 :
CN85100125
公开(公告)日 :
1986-07-30
申请日 :
1985-04-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韩至骏梅建南
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
清华大学专利事务所
代理人 :
付尚新
优先权 :
CN85100125
主分类号 :
G05D3/18
IPC分类号 :
G05D3/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制;调节
G05D
非电变量的控制或调节系统
G05D3/00
位置或方向的控制
G05D3/12
使用反馈的
G05D3/14
使用模拟比较装置的
G05D3/18
提供一系列脉冲的
法律状态
1986-07-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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