量化校正算法精度的方法和装置

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摘要

本公开涉及一种量化校正算法精度的方法和装置，其中，该方法包括获取步骤，获取步骤，获取原始图像，其中，原始图像为相机镜头拍摄包括一个或多个标准球体的场景而形成的图像；校正步骤，基于待评测校正算法，校正原始图像，以得到校正图像；分析步骤，提取校正图像中的标准球体的一个或多个校正形状，得到一个或多个校正形状的圆形度，并根据一个或多个校正形状的圆形度，得到待评测校正算法的精度。通过畸变度，来量化该校正算法的精度，以形成一个可以通过数字来量化校正算法效果的方法。

基本信息

专利标题：

量化校正算法精度的方法和装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110728634A

申请号：

CN201910848950.2

公开（公告）日：

2020-01-24

申请日：

2019-09-09

授权号：

CN110728634B

授权日：

2022-05-24

发明人：

刘钦

申请人：

北京迈格威科技有限公司

申请人地址：

北京市海淀区科学院南路2号融科资讯中心A座316-318

代理机构：

北京钲霖知识产权代理有限公司

代理人：

冯志云

优先权：

CN201910848950.2

主分类号：

G06T5/00

IPC分类号：

G06T5/00 G06T5/50