一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备
授权
摘要
本申请提供一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备，该方法包括：完成每一测试信号的多次数据采集得到多次采集数据，该数据采集由精度校正设备对测试设备的每一测试信号采集得到，或由测试设备采集精度校正设备输出的每一测试信号得到，根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻，跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻；根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值；根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值，以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。
基本信息
专利标题 ：
一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114267407A
申请号 ：
CN202210200506.1
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2022-03-03
授权号 ：
CN114267407B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
曹圭大刘金海
申请人 ：
合肥悦芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
唐正瑜
优先权 ：
CN202210200506.1
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220303
申请日 : 20220303
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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