光调制自动光测弹性应力的方法和装置
专利权的终止
摘要
光调制自动光测弹性应力的方法和装置，属于光测弹性应力技术领域。采用非单色光源以便于作双波长测量，达到可测任意条纹级数值的目的。采用电光调制器以利用其电致双折射特性实现补偿消光。在被测模型前后加有一对旋光器以便得到被测模型相对于正交偏振光场的转动效应。测量过程在微处理机控制下自动进行，测量结果以电信号送微处理机作数据自动处理。本发明提高了光测弹性应力的自动化程度，缩短了测量周期，提高了测量精度。
基本信息
专利标题 ：
光调制自动光测弹性应力的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100284A
申请号 ：
CN85100284.6
公开（公告）日 ：
1985-09-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85100284B
授权日 ：
1985-09-10
发明人 ：
张远鹏王楚张合义朱美栋施来荣陆燕仲武润玺柴玉明
申请人 ：
北京大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村
代理机构 ：
北京大学专利代理事务所
代理人 ：
逾达成
优先权 ：
CN85100284.6
主分类号 ：
G01L1/24
IPC分类号 ：
G01L1/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L1/00
力或应力的一般计量
G01L1/24
通过测量材料受应力时其光学性质的变化，例如，应用光弹性应力分析
法律状态
1990-08-15 ：
专利权的终止
1985-09-10 ：
审定
1985-09-10 ：
公开
1985-09-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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