测光装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是关于具有通过其光的透射量根据温度而变化的材料进行受光，并将光量变换为电量的光接收部件的光检测装置，通过设置由恒流源激励部件所激励的发光二极管光源，藉着检测这个发光二极管的正向电压并以这检出值来补正光接收部件的输出，消除上述发光二极管的由于温度变化而引起波长变化所造成的测定误差。
基本信息
专利标题 ：
测光装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107724A
申请号 ：
CN85107724.2
公开（公告）日 ：
1986-05-10
申请日 ：
1985-10-21
授权号 ：
CN1003394B
授权日 ：
1989-02-22
发明人 ：
藤田茂
申请人 ：
三菱电机株式会社
申请人地址 ：
日本东京都千代田区丸之内二丁目2番3号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴秉芬
优先权 ：
CN85107724.2
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01K11/18
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2000-12-13 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-10-25 ：
授权
1989-02-22 ：
审定
1986-07-09 ：
实质审查请求
1986-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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