一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法，现有的校准样块无法标出轮廓的起点，只能校验触针式量仪的Ra值(0.15μm～1.5μm)。本发明采用研磨工艺，在光滑参考基准平面的中部分段加工出具有单向随机轮廓的测量区域。利用光滑参考基准平面和测量区域的交线来标出单向随机轮廓的起点，Ra值可达0.015μm～1.5μm。除可用于校验触针式量仪的Ra值外，还可对各种粗糙度量仪、测试方法的测量参数和轮廓图形进行标定和比对。
基本信息
专利标题 ：
一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102013A
申请号 ：
CN85102013.5
公开（公告）日 ：
1986-12-31
申请日 ：
1985-07-03
授权号 ：
CN85102013B
授权日 ：
1988-04-20
发明人 ：
宋俊峰
申请人 ：
宋俊峰
申请人地址 ：
北京市1066信箱6分信
代理机构 ：
北京市科学技术研究院专利事务所
代理人 ：
郭佩兰
优先权 ：
CN85102013.5
主分类号 ：
G01B5/28
IPC分类号 ：
G01B5/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/255
••用于检测轮子的准直
G01B5/28
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
1992-10-28 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-08-23 ：
授权
1987-07-08 ：
实质审查请求
1986-12-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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