深孔表面粗糙度轮廓仪
专利申请的视为撤回
摘要
88BCL-I型深孔表面粗糙度轮廓仪是测量深孔表面粗糙度的新型测量仪器。该仪器采用针描法原理。主要由表面粗糙度测量头、支承座、联接座、控制电路系统和计算机系统组成。用于测量各种孔径的深孔(盲孔)管任意位置的表面粗糙度。孔深长度可达10米左右。测量时，Ra、Rz、Ry三个参数一次获得。测量过程由计算机控制，同时进行数据采集、处理、屏幕上显示三个参数数据，并能打印测量结果。
基本信息
专利标题 ：
深孔表面粗糙度轮廓仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1070471A
申请号 ：
CN91108717.6
公开（公告）日 ：
1993-03-31
申请日 ：
1991-09-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高凤武韩兆福阎万昌徐航
申请人 ：
中国人民解放军装甲兵工程学院
申请人地址 ：
100072北京市长辛店杜家坎21号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91108717.6
主分类号 ：
G01B7/34
IPC分类号 ：
G01B7/34 G01B7/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/315
••用于检测轮子的准直
G01B7/34
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
1996-11-27 ：
专利申请的视为撤回
1993-09-15 ：
实质审查请求的生效
1993-03-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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