关于离子分析器标定仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
用来标定离子分析仪的设备包括一个标定室，当设备工作在监测模式时，在标定室内确立了第一容积用来测量取样溶液的离子浓度，当设备工作在标定模式时，在标定室内形成了用来测量离子浓度的第二容积。第一容积被包含在第二容积中，并且是第二容积的一部分，这就保证了标定测量和取样测量实际上在同一容器中进行。在标定模式工作时，两种已知浓度的添加试剂被采用以确定标定参数。
基本信息
专利标题 ：
关于离子分析器标定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107082A
申请号 ：
CN85107082.5
公开（公告）日 ：
1987-04-01
申请日 ：
1985-09-23
授权号 ：
CN1008214B
授权日 ：
1990-05-30
发明人 ：
爱德华·E·A·布罗姆伯格艾伯特·迪根斯史蒂文·J·韦斯特詹姆斯·W·罗斯
申请人 ：
奥里安研究公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州剑桥
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN85107082.5
主分类号 ：
G01N27/28
IPC分类号 ：
G01N27/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/18
••••由于被试环境物质的热传导变化引起的电阻
G01N27/26
通过测试电化学变量；用电解或电泳法
G01N27/28
电解池部件
法律状态
2001-05-16 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1991-02-06 ：
授权
1990-05-30 ：
审定
1989-01-25 ：
实质审查请求
1987-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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