光学测量仪中所用的边沿检测器件
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
光学测量仪中用的边沿检测器件，用检测透射光或反射光来直接或间接测量被测物体的尺寸，该检测器件包括：有两个彼此同心配置的光接收元件的敏感器，以随着相对运动过程中的明部或暗部产生相移信号。连接在敏感器输出端的差值计算器计算相移信号间的差值；区域信号产生器，至少使一个由信号处理系统产生的输出信号变成为输入信号；以及敏感装置，用它输出在差值计算器的输出信号和预调的基准电平信号之间的交叉信号。
基本信息
专利标题 ：
光学测量仪中所用的边沿检测器件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107529A
申请号 ：
CN85107529.0
公开（公告）日 ：
1987-04-15
申请日 ：
1985-10-14
授权号 ：
CN1005218B
授权日 ：
1989-09-20
发明人 ：
西元贞光沢田克秀
申请人 ：
株式会社三丰制作所
申请人地址 ：
日本东京港区芝五丁目33番7号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN85107529.0
主分类号 ：
G01B9/08
IPC分类号 ：
G01B9/08 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/08
光学投影比较仪
法律状态
1997-11-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-06-06 ：
授权
1989-09-20 ：
审定
1988-05-18 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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