低温等离子体的化学检测方法
专利权的视为放弃
摘要
等离子体空间分布的检测方法。借助二苯基苦基酰肼与自由基的定量反应测定出在放电反应管内特定部位上被低温等离子体照射过的固体样品的表面过氧化基量，由此推断等离子体空间分布的均匀度。此法首次提出了利用化学反应进行等离子体诊断的方法，同传统的物理法诊断技术相比，简便、实用，可以将检测数据与等离子体化学反应的最终结果建立连系。
基本信息
专利标题 ：
低温等离子体的化学检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86101111A
申请号 ：
CN86101111.2
公开（公告）日 ：
1986-09-10
申请日 ：
1986-02-24
授权号 ：
CN1009962B
授权日 ：
1990-10-10
发明人 ：
朴东旭咸文淑刘静陈雪芹胡元洁黄玉丽
申请人 ：
北京化学纤维研究所
申请人地址 ：
北京市东城区朝阳门内大街75号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN86101111.2
主分类号 ：
G01N31/00
IPC分类号 ：
G01N31/00 C08J7/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N31/00
利用本组规定的化学方法对非生物材料的测试或分析；此类方法专用的装置
法律状态
1992-02-05 ：
专利权的视为放弃
1990-10-10 ：
审定
1989-06-14 ：
实质审查请求
1986-09-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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