压电陶瓷伸缩特性精密测量装置
被视为撤回的申请
摘要
一个用交流比相干涉仪来测量压电陶瓷伸缩特性的装置。干涉仪两个光臂的反射镜固定在待测的压电陶瓷上，测量是无接触式，可以得到高稳定性，高精度的测量。
基本信息
专利标题 ：
压电陶瓷伸缩特性精密测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107253A
申请号 ：
CN86107253
公开（公告）日 ：
1988-05-11
申请日 ：
1986-10-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
裘惠孚侯文玫
申请人 ：
北京机械工业管理学院分部
申请人地址 ：
北京市朝阳门外金台西路2号
代理机构 ：
冶金专利事务所
代理人 ：
侯文泰
优先权 ：
CN86107253
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00 G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
1989-08-23 ：
被视为撤回的申请
1988-05-11 ：
公开
1987-03-04 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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