压电陶瓷d15参数测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种压电陶瓷d15参数测量装置,包括安装架、位移台、光栅尺、读数头以及压电陶瓷叠堆安装基座。安装基座固定安装于安装架上,位移台可活动地安装于安装架上,光栅尺固定安装于位移台上,读数头固定安装于光栅尺的下方,待测量的压电陶瓷叠堆安装于安装基座与位移台之间,向压电陶瓷叠堆施加电压,压电陶瓷叠堆发生位移变化,使得位移台带动光栅尺发生同步运动,光栅尺的位移就是压电陶瓷叠堆在施加给定电压时的位移值,将该位移值同施加的给定电压相除求得压电陶瓷叠堆的d15参数。本实用新型的装置可以直接测量压电陶瓷的横向压电常数d15,同时可以达到纳米级的测量精度。

基本信息
专利标题 :
压电陶瓷d15参数测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921057763.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-05
授权号 :
CN209910594U
授权日 :
2020-01-07
发明人 :
杨晓峰郝凌凌王振华康华洲陈庆生
申请人 :
复旦大学
申请人地址 :
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 :
上海上谷知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡继清
优先权 :
CN201921057763.4
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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