低能电子谱仪分析栅
授权
摘要
本实用新型提供了一种改进的低能电子谱仪分析栅，即蜂窝状结构分析栅，它是用金属或绝缘材料表面涂以导电物质制成的。该分析栅不但制造工艺简单，成本低，而且分辨率和透射率都超过了4线/毫米的双层金属栅网，分辨率优于10-4，透射率优于98％。
基本信息
专利标题 ：
低能电子谱仪分析栅
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86200013.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-01-06
授权号 ：
CN86200013U
授权日 ：
1986-09-03
发明人 ：
阎辰赵裕民胡平晟
申请人 ：
中国原子能科学研究院
申请人地址 ：
北京市275信箱
代理机构 ：
核工业部专利法律事务所
代理人 ：
吴景夏
优先权 ：
CN86200013.0
主分类号 ：
H01J49/02
IPC分类号 ：
H01J49/02 H01J49/26
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
法律状态
1987-03-18 ：
授权
1986-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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