高频感应耦合等离子分析方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及适用于在试料雾化室和等离子喷枪之间设置有试料通路转换阀的高频感应耦合等离子分析装置的ICP分析方法。上述装置在进行分析时将试料导入等离子喷枪同时控制供给感应线圈的高频电功率和供给等离子喷枪的气体量使进入喷枪的试料处于等离子发光状态，而在不进行分析时控制上述高频电功率和气体量使喷枪中的等离子区维持在点火状态。
基本信息
专利标题 ：
高频感应耦合等离子分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87101801A
申请号 ：
CN87101801.2
公开（公告）日 ：
1987-10-07
申请日 ：
1987-03-10
授权号 ：
CN1013410B
授权日 ：
1991-07-31
发明人 ：
福井勋冈田幸治
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都市
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王以平
优先权 ：
CN87101801.2
主分类号 ：
G01N21/71
IPC分类号 ：
G01N21/71 G01N21/73 H05H1/16
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/71
热激发的
法律状态
2003-04-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-03-20 ：
其他有关事项
1992-04-15 ：
授权
1991-07-31 ：
审定
1989-08-02 ：
实质审查请求
1987-10-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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