气压扫描半导体激光器线宽测试仪
专利权的终止
摘要
气压扫描半导体激光器线宽测试仪是一种激光器参数测试仪器，它由望远镜系统、密封气压室、F-P标准具和气压控制系统及压力传感器等组成；可以用x-y记录仪直接画出激光的线形和模式，也可以同时用Z-80单板机直接读出激光器线宽的数值；具有结构简单、操作方便、性能稳定和成本低等优点，对环境条件无特殊要求，测量精度较高；不仅可以测量半导体激光器线宽，还可以制成干涉仪，用于测量气体折射率和微位移。
基本信息
专利标题 ：
气压扫描半导体激光器线宽测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87208603.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-05-25
授权号 ：
CN87208603U
授权日 ：
1988-05-11
发明人 ：
汪开源高中林章建洛孟晓晶
申请人 ：
南京工学院
申请人地址 ：
江苏省南京市四牌楼2号
代理机构 ：
南京工学院专利事务所
代理人 ：
楼高潮
优先权 ：
CN87208603.8
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1990-09-12 ：
专利权的终止
1989-02-15 ：
授权
1988-05-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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