反应和解离热脱附谱分析方法
专利权的视为放弃
摘要
反应和解高热脱附谱分析方法，属于测试领域。它通过质谱对相关荷质比数快速扫描获反应和解离热脱附中间谱，再通过中间谱中曲线的比值绘出反应和解离热脱附谱。本发明中的样品可吸附多种气体。除包含传统的热脱附谱方法外，本发明还具有传统的热脱附方法所不具备的研究表面反应和解离状态的功能，发展了热脱附谱学。本发明可用于表面分析、真空材料、催化材料、催化等领域。
基本信息
专利标题 ：
反应和解离热脱附谱分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1039304A
申请号 ：
CN88104186.6
公开（公告）日 ：
1990-01-31
申请日 ：
1988-07-12
授权号 ：
CN1017651B
授权日 ：
1992-07-29
发明人 ：
庞世瑾杨一新
申请人 ：
中国科学院北京真空物理开放实验室
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村2724信箱
代理机构 ：
中国科学院专利事务所
代理人 ：
关玲
优先权 ：
CN88104186.6
主分类号 ：
G01N30/02
IPC分类号 ：
G01N30/02 G01N7/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
法律状态
1993-11-10 ：
专利权的视为放弃
1992-07-29 ：
审定
1990-04-04 ：
实质审查请求
1990-01-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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