用于质谱系统中的热解离的设备和方法
公开
摘要
本文公开的设备、系统和方法利用通常设置在质谱系统的样品引入端口和离子导向器之间的离子源区域来热碎裂离子以用于传输到下游质量分析仪并由下游质量分析仪分析。在各个方面，本公开内容提供了在质谱系统的离子源区域中热碎裂离子的方法。热碎裂多个离子可以包括升高离子源区域中存在的离子的温度。热碎裂多个离子可以包括升高与由基本上无碰撞路径限定的离子源区域相关联的电离/碎裂区中的离子的温度。本公开内容的实施方式在质谱系统中是有用的，包括例如生成增强的碎裂模式。
基本信息
专利标题 ：
用于质谱系统中的热解离的设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114365259A
申请号 ：
CN202080058865.7
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
Y·勒布朗
申请人 ：
DH科技发展私人贸易有限公司
申请人地址 ：
新加坡新加坡
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈晓娜
优先权 ：
CN202080058865.7
主分类号 ：
H01J49/04
IPC分类号 ：
H01J49/04 H01J49/00
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/04
导入或提取待分析试样的装置，如真空锁；电子光学或离子光学部件的外部调节装置
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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