测量低能β射线用的自动效率示踪法
专利申请的视为撤回
摘要
本发明为测量低能β辐射体之辐射活性的方法，从标准样品的计数效率和被测样品的计数率间之关系导出回归式，经过种种校正，使以往之自动效率跟踪法难于测量低能β辐射体活性的缺点获得解决，达到可能测量的新方法。
基本信息
专利标题 ：
测量低能β射线用的自动效率示踪法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1034067A
申请号 ：
CN88108422.0
公开（公告）日 ：
1989-07-19
申请日 ：
1988-10-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石河宽昭
申请人 ：
日本科学株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
许新根
优先权 ：
CN88108422.0
主分类号 ：
G01T1/204
IPC分类号 ：
G01T1/204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
G01T1/204
闪烁体是液体的
法律状态
1993-01-20 ：
专利申请的视为撤回
1990-02-14 ：
实质审查请求
1989-07-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1034067A.PDF
PDF下载
