荧光测试的光路设置方法及装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种荧光光度测试光路的设置方法及其装置，这种荧光测试光路设有一个荧光反射聚光光路，激发光路和荧光检测光路处于同一光轴上，根据这一光路设置的方法所设计的光度计装置。包括专用荧光光度计，荧光一紫外一可见光多功能光分光度计以及与现有分光光度计配合使用的附件等，具有较高的荧光效率和荧光测试稳定性，还可扩大分光度计的使用功能，提高仪器的利用率。
基本信息
专利标题 ：
荧光测试的光路设置方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1050089A
申请号 ：
CN90100054.X
公开（公告）日 ：
1991-03-20
申请日 ：
1990-01-11
授权号 ：
CN1018582B
授权日 ：
1992-10-07
发明人 ：
吴芝清
申请人 ：
河北大学
申请人地址 ：
071002河北省保定市合作路1号
代理机构 ：
河北省专利事务所
代理人 ：
朱栋梁
优先权 ：
CN90100054.X
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
1995-03-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-06-16 ：
授权
1992-10-07 ：
审定
1991-03-20 ：
公开
1991-03-06 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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