投影式模具间隙测量仪及其光路结构
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
这是一种以投影式光路为设计方案的模具间隙测量仪，它采用双调焦光路结构，有效地解决了对凸凹模测量点上下图像清晰度相互兼顾的难题，并设有辅助光源直接照射测量点，使前调焦物镜所摄取到的上下测量点的图像，经换像合像，再后调焦放大，最后清晰地直接投于刻画着标准分划刻度的显像屏上，从而能在显像屏上直观、定量地读出模具的装配间隙量，任何技工均可用它在短时间内重复调装出高精度的凸凹模装配间隙来。
基本信息
专利标题 ：
投影式模具间隙测量仪及其光路结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1049410A
申请号 ：
CN90107030.0
公开（公告）日 ：
1991-02-20
申请日 ：
1990-08-15
授权号 ：
CN1028446C
授权日 ：
1995-05-17
发明人 ：
李光
申请人 ：
李光
申请人地址 ：
541001广西壮族自治区桂林市西山路54041部队卫生所转
代理机构 ：
桂林市专利事务所
代理人 ：
谢朗光
优先权 ：
CN90107030.0
主分类号 ：
G01B9/08
IPC分类号 ：
G01B9/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/08
光学投影比较仪
法律状态
1998-10-07 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-05-17 ：
授权
1991-07-17 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1991-02-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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