透明材料无损检测的光散射层析术及其装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
适于材料科学和光电子学领域的透明材料无损检测的光散射层析术(简称LST法)及其装置，用高亮度的激光束(如调Q-YAG的SHG激光束)作入射光源，利用Tyndall现象，为透明材料的无损检测提供更高精度更为方便而适用的观察方法和检测技术。本技术对被测样品是无损的，并且被测样品的尺寸不受限制，制样也非常简单，同时，它能提供缺陷的三维分布的直接形貌图。
基本信息
专利标题 ：
透明材料无损检测的光散射层析术及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1065525A
申请号 ：
CN91102059.4
公开（公告）日 ：
1992-10-21
申请日 ：
1991-03-30
授权号 ：
CN1034694C
授权日 ：
1997-04-23
发明人 ：
谭奇光侯建国
申请人 ：
中国科学院福建物质结构研究所
申请人地址 ：
350002福建省福州市143信箱
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91102059.4
主分类号 ：
G01N21/49
IPC分类号 ：
G01N21/49
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
2000-05-24 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1997-04-23 ：
授权
1994-01-05 ：
实质审查请求的生效
1992-10-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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