激光扫描测量芯块直径的装置和方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种芯块直径的监测系统具有一个检测芯块外径的激光扫描装置和一个传送芯块通过激光扫描装置的装置，一条固定的支撑导轨将芯块沿着一条直线路径排成一列，并由传动装置操纵通过前进行程和返回行程来推动它们沿着路径通过激光扫描装置。激光扫描装置包括一个激光光源和接受器，它们相对地安置在直线路径的两侧且与芯块列的公共轴线不成直角取向，它们分别发射和接收一束激光束沿着一条与芯块的公共轴线不成直角取向的路径穿过芯块，这将避免对芯块列中相邻芯块的端部处的检测。
基本信息
专利标题 ：
激光扫描测量芯块直径的装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1057521A
申请号 ：
CN91104340.3
公开（公告）日 ：
1992-01-01
申请日 ：
1991-06-17
授权号 ：
CN1027100C
授权日 ：
1994-12-21
发明人 ：
约翰·托马斯·迪格兰德大为·温森特·兰伯特
申请人 ：
西屋电气公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
冯赓宣
优先权 ：
CN91104340.3
主分类号 ：
G01B11/10
IPC分类号 ：
G01B11/10 G21C17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
G01B11/10
物体移动时计量其直径
法律状态
1996-07-31 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1994-12-21 ：
授权
1993-08-25 ：
实质审查请求的生效
1992-01-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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