一种测量物体直径的方法及其设备
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明公开了一种测量物体直径的方法及其设备。这种方法是在同一光路中用扫描激光束分别垂直扫过被测物体和标准挡光件,以获取二个光信号,二个光信号经放大、半峰检波、波形处理后分离,分别经A/D变换后由计算机进行相除运算后乘以预置常数即可取得测量数据。本发明公开的专用设备较之现有的测量设备是在光路中安置了一个以获取标准信号的标准挡光件,以及在电路系统中新加入了计算机数据处理设备以补偿环境变化和系统设备所造成的误差。所以采用本发明可大大提高测量精度、降低设备成本、提高产品质量,是管材、线材生产的新方法、新设备。
基本信息
专利标题 :
一种测量物体直径的方法及其设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1065330A
申请号 :
CN91107169.5
公开(公告)日 :
1992-10-14
申请日 :
1991-03-28
授权号 :
CN1026153C
授权日 :
1994-10-05
发明人 :
曾昭信何舜华
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
610054四川省成都市建设北路二段四号
代理机构 :
电子科技大学专利事务所
代理人 :
马新民
优先权 :
CN91107169.5
主分类号 :
G01B11/08
IPC分类号 :
G01B11/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
1996-05-15 :
专利权的终止未缴年费专利权终止
1994-10-05 :
授权
1993-10-13 :
实质审查请求的生效
1992-10-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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