物体形态测量方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本申请实施例公开了一种物体形态测量方法、装置、设备及存储介质。本申请实施例提供的技术方案，通过获取待检测物体的点云数据，基于点云数据拟合构建对应待检测物体的基准平面；将点云数据中各个点的参数值与基准平面对应点的参数值比对，确定点云数据中对应各个点的拟合误差值；基于各个点的拟合误差值计算得到待检测物体的形态度量值。采用上述技术手段，通过拟合构建基准平面，根据基准平面比对待检测物体各个点云以计算待检测物体的形态度量值，通过形态度量值以精准反映待检测物体的形态，提升物体形态的检测效率和检测精度。
基本信息
专利标题 ：
物体形态测量方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581361A
申请号 ：
CN202110723286.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-06-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴泽龙
申请人 ：
广州极飞科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市天河区高普路115号C座
代理机构 ：
北京泽方誉航专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈照辉
优先权 ：
CN202110723286.6
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/73 G06F17/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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