一种获取目标形态的多维测量方法
公开
摘要
为解决现有技术存在的问题，本发明提供了一种获取目标形态的多维测量方法，包括：S1.通过测量装置和转换模型将待测量目标所在承载面转换形成虚拟背景测量空间。S2.在虚拟背景测量空间中选定虚拟测量面，形成待测量目标所在承载面各点阵相对虚拟测量面的矫正参数。S3.识别待测量目标，通过测量装置对待测量目标及待测量目标所在承载面进行矩阵式测量，将待测量目标及待测量目标所在承载面转换形成虚拟目标测量空间。S4.对比虚拟背景测量空间和虚拟目标测量空间，得到待测量目标的在虚拟背景测量空间中，位于虚拟测量面上的虚拟形态。S5.根据需要输出待测量目标的测量数据。本发明测量目标形态数据精度误差为0.04‑0.6cm，测量分析的时间提高至0.01‑0.001秒。
基本信息
专利标题 ：
一种获取目标形态的多维测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295071A
申请号 ：
CN202111071003.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-09-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何宣余朱梦玺
申请人 ：
云南特可科技有限公司
申请人地址 ：
云南省楚雄彝族自治州楚雄市高新区紫溪大道227号楚雄开发区双创中心内A幢311室
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
李芳
优先权 ：
CN202111071003.0
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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