有机分子薄膜离解谱仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种由真空室、电子枪、生膜系统、低温金属靶和质谱探测系统等部件构成的用于研究在电子冲击下，有机分子薄膜离解机理的有机分子薄膜离解谱仪，其圆柱形无油超高真空室侧壁上安装着质谱探测系统，电子枪和生膜系统，在真空室内的低温冷阱上装置着可由转柄调节在360°内转动的低温金属靶，以便于能分别对准生膜系统、电子枪和质谱探测系统。该装置结构简单，操作方便，检测直观，采用程序脱附和质谱检测相结合，是研究分子薄膜离解的理想设备。
基本信息
专利标题 ：
有机分子薄膜离解谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91211315.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-03-09
授权号 ：
CN2105070U
授权日 ：
1992-05-20
发明人 ：
崔作林张志焜
申请人 ：
青岛化工学院
申请人地址 ：
266042山东省青岛市郑州路53号
代理机构 ：
青岛化工学院专利事务所
代理人 ：
吴澄
优先权 ：
CN91211315.4
主分类号 ：
G01N30/62
IPC分类号 ：
G01N30/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/62
相应的专用检测器
法律状态
1995-05-10 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-04-14 ：
授权
1992-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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