高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提供一种对高压电子铝箔{100}面织构占率的定量检测方法。根据X线测得的Shoo(α，β)、Shho(α，β)或Shhh(α，β)数据，对反映{100}面织构的衍射强度峰按用最小二乘法求出S0和b常数。然后用
计算{100}面织构占有率。衍射强度峰的散布宽度
。本发明的优点是所需测试的数据少，计算简单，便于现场生产在线检验，并同时给出{100}面积构占率V%和衍射强度峰的散布宽度θh。
基本信息
专利标题 ：
高压电子铝箔{100}织构占有率的检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1081511A
申请号 ：
CN93107141.0
公开（公告）日 ：
1994-02-02
申请日 ：
1993-06-22
授权号 ：
CN1036680C
授权日 ：
1997-12-10
发明人 ：
毛卫民余永宁
申请人 ：
乌鲁木齐铝厂;北京科技大学
申请人地址 ：
830013新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市喀什东路18号
代理机构 ：
北京科技大学专利代理事务所
代理人 ：
刘月娥
优先权 ：
CN93107141.0
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
2000-08-16 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1997-12-10 ：
授权
1994-02-02 ：
公开
1994-01-12 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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