被检查体的外观检查装置
授权
摘要

本发明揭示一种被检查体的外观检查装置,其目的在于在被检查体的外观检查上能构成扩展性好灵活的系统,另外,缩短基板等被检查体的检查时间,并提高检查精度。在基板(2)的外观检查装置(200)上,多台从属PC(140)和对基板(2)进行摄像的多个摄像单元(30)分别与所述多个摄像单元(30)的每一个对应设置,根据对应的摄像单元(30)摄得的基板(2)的摄像数据对基板(2)进行检查。该多台从属PC(140)的每一台对其它的从属PC(140)发送利用这些其它的从属PC(140)进行检查所需的公用数据。公用数据从由各从属PC(140)对应的摄像单元(30)拍摄的基板(2)的摄像数据中取得。从属PC(140)参照从各个其它的从属PC(140)接到的公用数据对基板(2)作外观检查。

基本信息
专利标题 :
被检查体的外观检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1987347A
申请号 :
CN200510003383.9
公开(公告)日 :
2007-06-27
申请日 :
2005-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
秋山吉宏杨勇秋山咲惠
申请人 :
株式会社先机
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
沈昭坤
优先权 :
CN200510003383.9
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2008-12-03 :
授权
2007-08-22 :
实质审查的生效
2007-06-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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