光学邻近校正光掩模及彩色滤光片的制造方法
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摘要

一种光学邻近校正光掩模,适用于制作一彩色滤光片,包括基板、光掩模图案及修补图案。其中,光掩模图案配置于基板上,光掩模图案与转移至彩色滤光片的一转移图案不匹配,使得彩色滤光片具有漏光区域。修补图案配置于基板上的光掩模图案的周边,与漏光区域的位置相对应。

基本信息
专利标题 :
光学邻近校正光掩模及彩色滤光片的制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1936702A
申请号 :
CN200510103767.8
公开(公告)日 :
2007-03-28
申请日 :
2005-09-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴心平林家辉
申请人 :
联华电子股份有限公司
申请人地址 :
台湾省新竹科学工业园区
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
陶凤波
优先权 :
CN200510103767.8
主分类号 :
G03F1/14
IPC分类号 :
G03F1/14  G02B5/23  G02F1/1335  
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法律状态
2009-12-16 :
授权
2007-05-23 :
实质审查的生效
2007-03-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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