用于增强离子产生的装置和方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明涉及一种使用质谱分析仪的装置和方法。本发明的离子增强系统用于将加热气体引向由基于基质的离子源产生和由探测器探测的离子。离子增强系统夹在离子源和探测器中间。接触加热气体的分析物离子被增强因而更多的离子更容易被探测器探测。本发明的方法包括从基于基质的离子源产生分析物离子,用离子增强系统增强分析物离子以及使用探测器探测已增强的分析物离子。

基本信息
专利标题 :
用于增强离子产生的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1828818A
申请号 :
CN200510109253.3
公开(公告)日 :
2006-09-06
申请日 :
2005-10-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
琼鲁克·图克白剑提莫森·乔伊斯
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
赵飞
优先权 :
CN200510109253.3
主分类号 :
H01J49/10
IPC分类号 :
H01J49/10  H01J37/08  H01J27/08  H01J49/26  G01N30/72  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
H01J49/02
零部件
H01J49/10
离子源;离子枪
法律状态
2008-07-30 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-01-10 :
发明专利申请公布说明书更正
更正卷 : 22
号 : 36
页码 : 扉页
更正项目 : 优先权
误 : 缺少优先权第二条
正 : 2005.01.21 US 11/041,118
2006-09-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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