利用阵列与解码器进行器件表征的方法与系统
专利申请权、专利权的转移
摘要

一种测试器件的系统与方法。所述系统包括多个焊盘和耦合到多个器件的解码器。所述解码器被配置从所述多个焊盘接收多个选择信号,并至少基于与所述多个选择信号相关联的信息从所述多个器件选择器件。此外,所述系统包括连接到所选器件的一个或多个焊盘。所述一个或多个焊盘中的至少一个焊盘没有连接到所述多个器件中除所选器件之外的任何器件。所述一个或多个焊盘被用于测试所选器件。

基本信息
专利标题 :
利用阵列与解码器进行器件表征的方法与系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1987501A
申请号 :
CN200510111997.9
公开(公告)日 :
2007-06-27
申请日 :
2005-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
龚斌
申请人 :
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址 :
201203上海市浦东新区张江路18号
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200510111997.9
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R31/00  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2012-01-04 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101259113252
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2005101119979
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
变更后权利人 : 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201203 上海市浦东新区张江路18号
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区张江路18号
变更事项 : 共同专利权人
变更前权利人 : 无
变更后权利人 : 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
登记生效日 : 20111128
2009-06-03 :
授权
2007-08-22 :
实质审查的生效
2007-06-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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