光学位置确定设备及方法
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摘要

一种光刻设备,包含支撑衬底的衬底平台,其中衬底在其表面上具有对准标记。该设备进一步包含可相对于衬底移动的框架,从而提供扫描工作模式或步进工作模式。投影系统阵列置于框架上,以将各个图形化射束投影到衬底的目标部分上。多个对准标记探测器被连接到该框架,且可使用各自的线性驱动机械装置相对该框架移动。位置传感器和每个对准标记探测器相关联,用于确定该探测器相对于该框架的位置。控制系统负责探测器在衬底上的对准标记图形上的初始定位,也负责光刻过程中该框架和衬底的动态对准。

基本信息
专利标题 :
光学位置确定设备及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1766740A
申请号 :
CN200510118515.2
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-10-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
C·Q·桂
申请人 :
ASML荷兰有限公司
申请人地址 :
荷兰维尔德霍芬
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
张雪梅
优先权 :
CN200510118515.2
主分类号 :
G03F9/00
IPC分类号 :
G03F9/00  G01B9/02  G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F9/00
原版、蒙片、片框、照片、图纹表面的对准或定位,例如自动地
法律状态
2010-05-05 :
授权
2007-12-26 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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