嵌入式检测对象
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
提供用于在程序305，373中检测对象恶化的程序，方法和装置。一个实施例包括具有处理器114和耦合至该处理器的存储器124的计算装置110。该存储器124包括一程序，该程序具有与该程序中的类定义210相关的嵌入式检测对象208和212。该检测对象含有在一个对象被破坏373时，能够被测试的预定义数据串208。
基本信息
专利标题 ：
嵌入式检测对象
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1770101A
申请号 ：
CN200510118648.X
公开（公告）日 ：
2006-05-10
申请日 ：
2005-11-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·L·里夫斯M·S·埃文斯A·L·格尔哈德特W·L·海恩斯R·M·帕克P·D·谢珀斯
申请人 ：
惠普开发有限公司
申请人地址 ：
美国德克萨斯州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
杨生平
优先权 ：
CN200510118648.X
主分类号 ：
G06F9/44
IPC分类号 ：
G06F9/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F9/00
程序控制装置，例如，控制单元
G06F9/06
应用存入的程序的，即应用处理设备的内部存储来接收程序并保持程序的
G06F9/44
用于执行专门程序的装置
法律状态
2009-04-01 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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