镜面光泽预测装置、镜面光泽预测方法、控制程序及介质
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摘要
本发明实现一种镜面光泽预测装置，即使在浓度淡的图像或低光泽的图像中，也能通过双色性反射模型准确地预测镜面光泽度。该镜面光泽预测装置测定由基材和形成于基材上的色料层构成的试料的规定的几何体系中的亮度值，并根据该测定结果预测所有(其它)的几何体系中的镜面反射光量来预测镜面光泽度。镜面光泽预测装置(100)包括：下层反射光分量计算部(111)，计算由基材反射并透过色料层被辐射的下层反射光分量；内部反射光分量生成部(112)，生成在色料层内部反射的内部反射光分量；表面反射光分量生成部(113)，生成由色料层的表面反射的表面反射光分量；镜面反射光分量计算部(114)，将各部分生成的各分量相加，从而求试料的镜面反射光量。
基本信息
专利标题 ：
镜面光泽预测装置、镜面光泽预测方法、控制程序及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1766577A
申请号 ：
CN200510118742.5
公开（公告）日 ：
2006-05-03
申请日 ：
2005-10-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
道正田洋三宅洋一
申请人 ：
夏普株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
邵亚丽
优先权 ：
CN200510118742.5
主分类号 ：
G01N21/57
IPC分类号 ：
G01N21/57 G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
G01N21/57
测量光泽度
法律状态
2009-06-03 ：
授权
2006-06-28 ：
实质审查的生效
2006-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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