用于多芯片组件的具有可规划扫描链的装置及其规划方法
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摘要
本发明提供一种具有可规划扫描链的装置，此装置包括：一扫描链，具有一扫描输入端口与一扫描输出端口；多个第一输入/输出端口；一输入端口选择器，选择第一输入/输出端口其中之一，耦接扫描输入端口；多个第二输入/输出端口；以及一输出端口选择器，选择第二输入/输出端口其中之一，耦接扫描输出端口。本发明还提供一种具有可规划扫描链的装置，包括：N个扫描链，每一扫描链具有一扫描输入端口与一扫描输出端口；M个第一输入/输出端口；一输入端口选择器，选择第一输入/输出端口其中之N个，分别耦接N个扫描输入端口；K个第二输入/输出端口；以及一输出端口选择器，选择第二输入/输出端口中之N个，分别耦接N个扫描输出端口。
基本信息
专利标题 ：
用于多芯片组件的具有可规划扫描链的装置及其规划方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1996035A
申请号 ：
CN200510138180.0
公开（公告）日 ：
2007-07-11
申请日 ：
2005-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈柏源詹澄胜林慧敏
申请人 ：
旺玖科技股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省台北市南港区南港路3段48号7楼
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
任永武
优先权 ：
CN200510138180.0
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G06F17/50 G11C29/54
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2012-01-25 ：
授权
2007-09-05 ：
实质审查的生效
2007-07-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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