用于测量抖动的方法和设备
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摘要

一种用于特性化周期信号的抖动的系统和方法。利用采样器件,对该信号进行采样。采集用于表示了在该周期信号的多个周期中的特定信号值的一组采样。利用这些值形成直方图。该直方图与概率分布函数匹配。通过识别用于使该概率分布函数成形匹配于实际采样的直方图的参数,确定该抖动的特性。可以将这种技术应用作为抖动生成仪器的校准或者校验的一部分,诸如可以用于测试半导体器件。可以利用被校准为符合NIST标准的采样器件进行测量。以次方式,则该抖动测量值变为NIST标定的。

基本信息
专利标题 :
用于测量抖动的方法和设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101133336A
申请号 :
CN200580033047.7
公开(公告)日 :
2008-02-27
申请日 :
2005-09-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
穆罕默德·泰克刘驰兵
申请人 :
泰拉丁公司
申请人地址 :
美国马萨诸塞州
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
谷惠敏
优先权 :
CN200580033047.7
主分类号 :
G01R29/26
IPC分类号 :
G01R29/26  G01R13/02  H04L1/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/26
噪声值的测量;信噪比的测量
法律状态
2009-10-21 :
授权
2008-04-23 :
实质审查的生效
2008-02-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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