用于光纤的测量设备和方法
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摘要
本发明涉及一种用于测量光纤(1400)中的反射的测量设备(3000)，该设备包括：发射装置(3100)，其连接至光纤(1400)并被配置成用于将光发射到光纤(1400)中；测量装置(3300)，其连接至光纤(1400)并被配置成用于接收来自光纤(1400)的反射光，其中，测量装置包括第一光子探测器(3310)和第二光子探测器(3311)，其中，基于第一光子探测器(3310)的输出控制第二光子探测器(3311)的操作和/或到达第二光子探测器(3311)的反射光。
基本信息
专利标题 ：
用于光纤的测量设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110140037A
申请号 ：
CN201780081138.0
公开（公告）日 ：
2019-08-16
申请日 ：
2017-12-21
授权号 ：
CN110140037B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
F·比西埃B·桑吉内蒂
申请人 ：
艾迪量子股份公司
申请人地址 ：
瑞士卡鲁日
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
周家新
优先权 ：
CN201780081138.0
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01D5/353
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2019-12-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20171221
申请日 : 20171221
2019-08-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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