用于在闪存参比单元设定时执行快速测试的系统
专利权的终止
摘要
存储器件(10)中的一种内嵌电路(14)，用于取代一外部测试装置来执行耗时的任务，诸如在参比单元(20)设定期间的电压验证。一外部测试装置(16)将至少一个参比单元(22)编程到一预定值。该内嵌电路使用该由外部装置编程的单元(22)作为一比较基准来编程另外的参比单元(20)。
基本信息
专利标题 ：
用于在闪存参比单元设定时执行快速测试的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101088127A
申请号 ：
CN200580044251.9
公开（公告）日 ：
2007-12-12
申请日 ：
2005-11-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
L·贝达里达S·巴托里S·苏瑞柯M·弗卢里欧
申请人 ：
爱特梅尔股份有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈炜
优先权 ：
CN200580044251.9
主分类号 ：
G11C7/14
IPC分类号 ：
G11C7/14
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C7/10
输入/输出数据接口装置，例如：I/O数据控制电路、I/O数据缓冲器
G11C7/14
哑单元管理；读取基准电压发生器
法律状态
2014-12-31 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101594123247
IPC(主分类) : G11C 7/14
专利号 : ZL2005800442519
申请日 : 20051118
授权公告日 : 20110420
终止日期 : 20131118
号牌文件序号 : 101594123247
IPC(主分类) : G11C 7/14
专利号 : ZL2005800442519
申请日 : 20051118
授权公告日 : 20110420
终止日期 : 20131118
2011-04-20 ：
授权
2008-02-27 ：
实质审查的生效
2007-12-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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