高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置。它具有一组双路开关，一组双路开关的动触点分别与多个待测发热元件一端相接，多个待测发热元件另一端互相连接，经总电流表与总电压表一端相接，总电压表另一端与一组双路开关的动触点相接，多个待测发热元件另一端与分电压表一端相接，分电压表另一端与一组双路开关的一静触点相接，一组双路开关的另一静触点互相连接，一组双路开关的一定触点经分电流表与双路开关的另一静触点相接。本发明在测量过程中，无需拆、接线和通、断电及电流恒定(时间极短，可忽略)等过程，使用该装置测量一个元件所花费的时间约是上述一般方法的五十分之一，大大提高了工作效率。
基本信息
专利标题 ：
高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1793993A
申请号 ：
CN200610048990.1
公开（公告）日 ：
2006-06-28
申请日 ：
2006-01-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谭洪生郑强
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
310027浙江省杭州市浙大路38号
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
张法高
优先权 ：
CN200610048990.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2008-09-17 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-23 ：
实质审查的生效
2006-06-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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