一种基于自身特征参照的圆柱度仪基准间误差分离方法
授权
摘要
本发明属于精密仪器测量技术领域，特别是一种具有自身参照和自校准特征的圆柱度测量仪组合式基准间误差分离方法。本发明的方法采用单传感器测量，通过对被测工件进行正向放置与倒向放置两个测回，经过简单的数据处理，便可分离出被测工件自身的形状误差与导轨相对主轴回转轴线的倾斜量，可完全去除倾斜量对圆柱形状超精密测量的影响，使圆柱形状测量用空间运动基准精度水平较一般精密空间运动基准提高一个数量级以上。
基本信息
专利标题 ：
一种基于自身特征参照的圆柱度仪基准间误差分离方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1811332A
申请号 ：
CN200610056957.3
公开（公告）日 ：
2006-08-02
申请日 ：
2006-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谭久彬黄景志薛梓杨文国金国良王雷赵维谦
申请人 ：
哈尔滨工业大学
申请人地址 ：
150001黑龙江省哈尔滨市西大直街92号
代理机构 ：
北京英特普罗知识产权代理有限公司
代理人 ：
齐永红
优先权 ：
CN200610056957.3
主分类号 ：
G01B5/20
IPC分类号 ：
G01B5/20 G01B21/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2009-06-03 ：
授权
2006-09-27 ：
实质审查的生效
2006-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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