一种实现高度误差分离的形貌测量装置及方法、系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种实现高度误差分离的形貌测量装置及方法、系统,包括二维运动模组、配置在二维运动模组上测量桥组件和高度误差分离模块;高度误差分离模块包括外置基准光学平晶和误差光学测量组件,外置基准光学平晶固定在误差光学测量组件上端,误差光学测量组件配置在测量桥组件第一端面,外置基准光学平晶下表面与误差光学测量组件上表面耦合形成薄膜气隙,测量桥组件随二维运动模组作二维直线运动,带动误差光学测量组件作二维运动;误差光学测量组件配置为将外置基准光学平晶下表面与误差光学测量组件发生靠近或远离位移转值;位移转值用于补偿测量桥组件采集待测工件形貌值。旨在解决现有光学三维测量方案存在测量精度低,成本高昂的问题。

基本信息
专利标题 :
一种实现高度误差分离的形貌测量装置及方法、系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485472A
申请号 :
CN202210131938.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程方张岩崔长彩苏杭陈涛葛明鑫周东方邹彤余卿
申请人 :
华侨大学
申请人地址 :
福建省泉州市城华北路269号
代理机构 :
厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈晓思
优先权 :
CN202210131938.1
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20220214
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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