一种高度向误差分离的三维形貌测量装置及方法、系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种高度向误差分离的三维形貌测量装置及方法、系统,包括底座、高度误差分离模块、二维运动机台、测量桥组件;二维运动机台包括外置基准光学平晶、位移驱动机构,外置基准光学平晶配置在位移驱动机构上,外置基准光学平晶下表面与高度误差分离模块上表面耦合形成薄膜气隙,外置基准光学平晶上表面用于放置待测工件,测量桥组件用于采集待测工件形貌值,外置基准光学平晶随位移驱动机构作二维直线运动;高度误差分离模块配置为采集外置基准光学平晶下表面与高度误差分离模块发生靠近或分离位移转值;位移转值用于补偿测量桥组件采集待测工件形貌值。旨在解决现有工件面形精度测量方案存在测量精度低,成本高昂,装调要求严苛的问题。

基本信息
专利标题 :
一种高度向误差分离的三维形貌测量装置及方法、系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485471A
申请号 :
CN202210131865.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程方张岩崔长彩苏杭周东方陈涛邹彤余晚珮余卿
申请人 :
华侨大学
申请人地址 :
福建省泉州市城华北路269号
代理机构 :
厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈晓思
优先权 :
CN202210131865.6
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20220214
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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