先验约束的均值平移分析
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
提供用于数据阵列的先验约束的均值平移分析的系统(100)和方法(200)，所述系统包括处理器(102)、用于接收至少一个数据阵列的与处理器进行信号通信的输入适配器(112，114，128，130)、以及用于对至少一个数据阵列执行先验约束的均值平移分析的与处理器进行信号通信的先验约束单元(170)；并且所述方法包括接收(212)初始化数据、选择(216)相对于初始化数据的初始点、响应于该初始点利用先验约束的均值平移进行高斯拟合(218)以分析结构、并且将所分析的结构设置(220)为先验约束。
基本信息
专利标题 ：
先验约束的均值平移分析
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1971617A
申请号 ：
CN200610171969.0
公开（公告）日 ：
2007-05-30
申请日 ：
2006-03-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
K·奥卡达A·克里什南M·K·辛V·拉姆什
申请人 ：
西门子共同研究公司;美国西门子医疗解决公司
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
卢江
优先权 ：
CN200610171969.0
主分类号 ：
G06T5/00
IPC分类号 ：
G06T5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2008-12-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-05-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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