一种基于多级张量先验约束的高光谱异常检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于多级张量先验约束的高光谱异常检测方法，首先，使用张量分解将原始高光谱图像分割为背景张量和异常目标张量；然后，分别将背景张量的低秩先验和异常目标张量的稀疏先验建模为截断核范数TNN正则项和l2,1范数正则项，并且，创建l0‑l1HTV正则项，用于表征背景张量的空间分段平滑先验度；最终，将所有正则项融合在一起，建立一种新的异常检测模型函数，使用ADMM算法求解，得到异常目标检测结果。本发明能提高异常检测精度，并降低相应的虚警率。
基本信息
专利标题 ：
一种基于多级张量先验约束的高光谱异常检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114331976A
申请号 ：
CN202111525268.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李丹王禹健李小军吴汉杰
申请人 ：
南京航空航天大学;西安空间无线电技术研究所
申请人地址 ：
江苏省南京市秦淮区御道街29号
代理机构 ：
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
王安琪
优先权 ：
CN202111525268.3
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211214
申请日 : 20211214
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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