测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种测试装置,其主要通过平台的容置部上所设的定位件来固定测试电路板,并使受测芯片的接脚与测试电路板表面所设的连接座的接点抵接,而平台上方则设置有抵压机构,其抵压机构通过把手转动,使其带动把手所枢接的压制元件来向下推动底部的抵压板,当平台位于抵压板下方时,即可扳动把手使其压制元件推动抵压板向下位移,通过抵压板使芯片与测试电路板确实形成电性接触,以此进行芯片测试动作,进而达到测试快速、省力省时、操作简单及芯片稳固定位的功效。

基本信息
专利标题 :
测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620112557.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-04-20
授权号 :
CN2903998Y
授权日 :
2007-05-23
发明人 :
赵茂雄
申请人 :
宏连国际科技股份有限公司
申请人地址 :
台湾台北瑞光路513巷28号8楼
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
陈肖梅
优先权 :
CN200620112557.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R31/27  G01R31/28  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2010-08-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101004344336
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2006201125575
申请日 : 20060420
授权公告日 : 20070523
2007-05-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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