测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型是有关于一种测试装置,包括探针基座、多个探针组及固定板。各探针组包括探针与固定于探针基座的探针套,探针容置于探针套中。探针具有第一部分与第二部分,且第一部分一端具有一连接端,以与第二部分结合,并使第二部分可在第一部分内伸缩。固定板配置于探针基座上,且具有分别对应探针组的多个锥形贯孔。各锥形贯孔具有相对的开口端与缩口端,开口端邻近探针基座。探针的第二部分穿过锥形贯孔的缩口端,第一部分的连接端抵靠锥形贯孔的孔壁,探针的第二部分分别接触测试板的测试接点。当测试板移开,探针可利用锥形贯孔的限制,而不致脱离弹起。

基本信息
专利标题 :
测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820140315.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-10
授权号 :
CN201266222Y
授权日 :
2009-07-01
发明人 :
蔡竹青钱顺荣
申请人 :
环隆电气股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾南投县
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿 宁
优先权 :
CN200820140315.6
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R31/28  G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2018-11-02 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20081010
授权公告日 : 20090701
2011-03-30 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101077709153
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008201403156
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 环隆电气股份有限公司
变更后权利人 : 环旭电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 中国台湾南投县
变更后权利人 : 201203 上海市张江高科技园区张东路1558号
登记生效日 : 20110215
2009-07-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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