冷冻环境IC测试机台
专利权的终止
摘要
一种冷冻环境IC测试机台，主要藉由一进出缓冲组件，将原处于室温环境下的待测IC置于缓冲组件处，逐渐降温至接近预定测试温度，才置放于受测环境而接受测试；并于测试完毕后，将测完的IC经缓冲组件，逐渐回温至接近室温，以避免温度的急剧升降导致IC产生应力甚至结构遭到破坏，以及温度升降所导致的水汽凝结，从而避免待测IC受到不必要的损坏。
基本信息
专利标题 ：
冷冻环境IC测试机台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620139269.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-09-08
授权号 ：
CN200982982Y
授权日 ：
2007-11-28
发明人 ：
蔡译庆
申请人 ：
致茂电子股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省桃园县龟山乡华亚一路66号
代理机构 ：
北京明和龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
郁玉成
优先权 ：
CN200620139269.9
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2016-11-02 ：
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101685481163
IPC(主分类) : G01R 1/02
专利号 : ZL2006201392699
申请日 : 20060908
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101685481163
IPC(主分类) : G01R 1/02
专利号 : ZL2006201392699
申请日 : 20060908
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 无
2007-11-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN200982982Y.PDF
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