芯片测试机台及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种芯片测试机台及方法，芯片测试机台包括：包括：机架；控制台，所述控制台可沿纵向移动地设置在所述机架上，所述控制台用于放置DRAM测试板；按压机构，所述按压机构可沿竖直方向移动地设置在所述机架上，所述DRAM测试板位于所述控制台与所述按压机构之间，所述按压机构用于压合所述DRAM测试板；以及分Bin控制板，所述分Bin控制板设置在所述机架上，所述分Bin控制板与所述DRAM测试板电连接。芯片测试方法采用上述的测试机台实现适用于小规模生产的半自动化芯片测试，并且适用于芯片的研发测试，使用方便，成本低。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试机台及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414982A
申请号 ：
CN202111588420.2
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
翁伟明何毅阳陈晓森
申请人 ：
珠海妙存科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市横琴新区宝华路6号105室-40471
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张龙哺
优先权 ：
CN202111588420.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211223
申请日 : 20211223
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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