一种测试方法及测试机台
公开
摘要
本申请提供一种测试方法及测试机台，获取针对第一芯片进行ULPMark测试的地址映射信息；地址映射信息为在第一芯片进行ULPMark测试时，第一芯片中的存储器需要被访问的地址；根据地址映射信息，确定第一芯片中的存储器的实际使用容量；根据存储器的实际使用容量，确定第一芯片中存储器的可行容量，以根据可行容量对第一芯片的存储器的容量进行优化。可见，根据地址映射信息能够确定存储器的实际使用容量，根据存储器的实际使用容量来调整存储器的可行容量，对存储器的容量进行优化，使存储器的容量和地址映射信息占用的容量匹配，避免存储器容量过大而地址映射信息占用的容量较小，导致存储器容量浪费以及功耗高的问题，从而降低芯片功耗，提高芯片质量。
基本信息
专利标题 ：
一种测试方法及测试机台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624572A
申请号 ：
CN202210240258.3
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵慧冬刘畅然乔树山刘逸畅
申请人 ：
中国科学院微电子研究所
申请人地址 ：
北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
柳虹
优先权 ：
CN202210240258.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
