量测机台的测试方法、测试装置及监控系统
实质审查的生效
摘要

本申请实施例公开了一种量测机台的测试方法、测试装置及监控系统,所述方法包括:在测试晶圆上选择多个测量点位,多个测量点位用于表征指定工艺数据;通过多个量测机台按照设定的时间间隔对每个所述测量点位进行连续测试得到测量值;根据所述测量值计算所述量测机台的精确度。该方法通过测试晶圆上的多个测量点位代替多个测试晶圆,在日常准确度测机的同时,通过同一量测机台获取的同一测量点位在不同时间的测量值能够反应重复性,不同的量测机台获取的同一测量点位的测量值能够反应再现性,进而通过测量值能够计算出量测机台的精确度。

基本信息
专利标题 :
量测机台的测试方法、测试装置及监控系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325346A
申请号 :
CN202210028662.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱贺
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郑久兴
优先权 :
CN202210028662.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220111
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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